Otwarty dostęp

Stereometric analysis of Ta2O5 thin films

Dinara Sobola

Dinara Sobola

Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics DepartmentBrno,
Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Sobola, Dinara
, 
Pavel Kaspar

Pavel Kaspar

Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics DepartmentBrno,
Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Kaspar, Pavel
, 
Jindrich Oulehla

Jindrich Oulehla

Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics DepartmentBrno,
Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Oulehla, Jindrich
, 
Ştefan Ţălu

Ştefan Ţălu

Technical University of Cluj-Napoca, The Directorate of Research, Development and Innovation Management (DMCDI)Cluj-Napoca, Romania
Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Ţălu, Ştefan
 oraz 
Nikola Papež

Nikola Papež

Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics DepartmentBrno,
Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Papež, Nikola
  
10 sty 2020
Stereometric analysis of Ta2O5 thin films's Cover Image
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Zacytuj
Pobierz okładkę
Data publikacji: 10 sty 2020
Otrzymano: 04 paź 2018
Przyjęty: 23 kwi 2019
DOI: https://doi.org/10.2478/msp-2019-0083
Słowa kluczowe
© 2019 Dinara Sobola et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
4 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Nauka o materiałach, Nauka o materiałach, inne, Nanomateriały, Funkcjonalne i inteligentne materiały, Charakterystyka i właściwości materiałów
Kanał RSS czasopisma