Accès libre

Stereometric analysis of Ta2O5 thin films

Dinara Sobola

Dinara Sobola

Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics DepartmentBrno,
Recherchez cet auteur sur
Sciendo|Google Scholar
Sobola, Dinara
, 
Pavel Kaspar

Pavel Kaspar

Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics DepartmentBrno,
Recherchez cet auteur sur
Sciendo|Google Scholar
Kaspar, Pavel
, 
Jindrich Oulehla

Jindrich Oulehla

Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics DepartmentBrno,
Recherchez cet auteur sur
Sciendo|Google Scholar
Oulehla, Jindrich
, 
Ştefan Ţălu

Ştefan Ţălu

Technical University of Cluj-Napoca, The Directorate of Research, Development and Innovation Management (DMCDI)Cluj-Napoca, Romania
Recherchez cet auteur sur
Sciendo|Google Scholar
Ţălu, Ştefan
 et 
Nikola Papež

Nikola Papež

Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics DepartmentBrno,
Recherchez cet auteur sur
Sciendo|Google Scholar
Papež, Nikola
  
10 janv. 2020
Stereometric analysis of Ta2O5 thin films's Cover Image
À propos de cet article
Article précédent
Article suivant
Citez
Télécharger la couverture
Publié en ligne: 10 janv. 2020
Reçu: 04 oct. 2018
Accepté: 23 avr. 2019
DOI: https://doi.org/10.2478/msp-2019-0083
Mots clés
© 2019 Dinara Sobola et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Langue:
Anglais
Périodicité:
4 fois par an
Sujets de la revue:
Sciences des matériaux, Sciences des matériaux, autres, Nanomatériaux, Matériaux fonctionnels et intelligents, Caractérisation et propriétés des matériaux
RSS Feed de la revue