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Stereometric analysis of Ta2O5 thin films

Dinara Sobola

Dinara Sobola

Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics DepartmentBrno,
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Sobola, Dinara
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Pavel Kaspar

Pavel Kaspar

Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics DepartmentBrno,
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Kaspar, Pavel
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Jindrich Oulehla

Jindrich Oulehla

Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics DepartmentBrno,
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Oulehla, Jindrich
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Ştefan Ţălu

Ştefan Ţălu

Technical University of Cluj-Napoca, The Directorate of Research, Development and Innovation Management (DMCDI)Cluj-Napoca, Romania
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Ţălu, Ştefan
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Nikola Papež

Nikola Papež

Brno University of Technology, Faculty of Electrical Engineering and Communication, Physics DepartmentBrno,
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Papež, Nikola
  
10 gen 2020
Stereometric analysis of Ta2O5 thin films's Cover Image
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Pubblicato online: 10 gen 2020
Ricevuto: 04 ott 2018
Accettato: 23 apr 2019
DOI: https://doi.org/10.2478/msp-2019-0083
Parole chiave
© 2019 Dinara Sobola et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
4 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Scienze materiali, Scienze materiali, altro, Nanomateriali, Materiali funzionali ed intelligenti, Caratteristica e proprietà dei materiali
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