Iniciar sesión
Registrarse
Restablecer contraseña
Publicar y Distribuir
Soluciones de Publicación
Soluciones de Distribución
Temas
Arquitectura y diseño
Artes
Ciencias Sociales
Ciencias de la Información y Bibliotecas, Estudios del Libro
Ciencias de la vida
Ciencias de los materiales
Deporte y tiempo libre
Estudios clásicos y del Cercano Oriente antiguo
Estudios culturales
Estudios judíos
Farmacia
Filosofía
Física
Geociencias
Historia
Informática
Ingeniería
Interés general
Ley
Lingüística y semiótica
Literatura
Matemáticas
Medicina
Música
Negocios y Economía
Química
Química industrial
Teología y religión
Publicaciones
Revistas
Libros
Actas
Editoriales
Blog
Contacto
Buscar
EUR
USD
GBP
Español
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Carrito
Home
Revistas
Materials Science-Poland
AHEAD OF PRINT
Acceso abierto
Stereometric analysis of Ta
2
O
5
thin films
Dinara Sobola
Dinara Sobola
,
Pavel Kaspar
Pavel Kaspar
,
Jindrich Oulehla
Jindrich Oulehla
,
Ştefan Ţălu
Ştefan Ţălu
y
Nikola Papež
Nikola Papež
| 10 ene 2020
Materials Science-Poland
AHEAD OF PRINT
Acerca de este artículo
Artículo anterior
Artículo siguiente
Resumen
Referencias
Autores
Artículos en este número
Vista previa
PDF
Cite
Compartir
Publicado en línea:
10 ene 2020
Páginas:
-
Recibido:
04 oct 2018
Aceptado:
23 abr 2019
DOI:
https://doi.org/10.2478/msp-2019-0083
Palabras clave
atomic force microscopy
,
stereometric analysis
,
TaO
,
topography
© 2019 Dinara Sobola et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.