Otwarty dostęp

Application of Machine Vision Technology in Defect Detection of High Performance Phase Noise Measurement Chips

oraz

03 wrz 2024

Application of Machine Vision Technology in Defect Detection of High Performance Phase Noise Measurement Chips's Cover Image

Applied Mathematics and Nonlinear Sciences

Tom 9 (2024): Zeszyt 1 (Styczeń 2024)

O artykule

Poprzedni artykuł

Następny artykuł

Zacytuj

Udostępnij

Pobierz okładkę

Data publikacji: 03 wrz 2024

Otrzymano: 30 kwi 2024

Przyjęty: 01 sie 2024

DOI: https://doi.org/10.2478/amns-2024-2412

Słowa kluczowe
Mean value filtering algorithm, Sobel operator, PCA method, Support vector machine, Chip defect detection

© 2024 Jianxun Deng et al., published by Sciendo

This work is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International License.

Deng, Jianxun

School of Architecture and Materials, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China

Hu, Chunxia

School of Artificial Intelligence and Big Data, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China

Język:: Angielski

Częstotliwość wydawania:: 1 razy w roku
Dziedziny czasopisma:: Nauki biologiczne, Nauki biologiczne, inne, Matematyka, Matematyka stosowana, Matematyka ogólna, Fizyka, Fizyka, inne

Kanał RSS czasopisma