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Application of Machine Vision Technology in Defect Detection of High Performance Phase Noise Measurement Chips

Jianxun Deng

Jianxun Deng

School of Architecture and Materials, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China
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Deng, Jianxun
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Chunxia Hu

Chunxia Hu

School of Artificial Intelligence and Big Data, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China
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Hu, Chunxia
  
03 sept 2024
Application of Machine Vision Technology in Defect Detection of High Performance Phase Noise Measurement Chips's Cover Image
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Publicado en línea: 03 sept 2024
Recibido: 30 abr 2024
Aceptado: 01 ago 2024
DOI: https://doi.org/10.2478/amns-2024-2412
Palabras clave
© 2024 Jianxun Deng et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Deng, Jianxun
School of Architecture and Materials, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China
Hu, Chunxia
School of Artificial Intelligence and Big Data, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China
Idioma:
Inglés
Calendario de la edición:
1 veces al año
Temas de la revista:
Ciencias de la vida, Ciencias de la vida, otros, Matemáticas, Matemáticas aplicadas, Matemáticas generales, Física, Física, otros
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