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Application of Machine Vision Technology in Defect Detection of High Performance Phase Noise Measurement Chips

Jianxun Deng

Jianxun Deng

School of Architecture and Materials, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China
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Deng, Jianxun
 und 
Chunxia Hu

Chunxia Hu

School of Artificial Intelligence and Big Data, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China
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Hu, Chunxia
  
03. Sept. 2024
Application of Machine Vision Technology in Defect Detection of High Performance Phase Noise Measurement Chips's Cover Image
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Online veröffentlicht: 03. Sept. 2024
Eingereicht: 30. Apr. 2024
Akzeptiert: 01. Aug. 2024
DOI: https://doi.org/10.2478/amns-2024-2412
Schlüsselwörter
© 2024 Jianxun Deng et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Deng, Jianxun
School of Architecture and Materials, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China
Hu, Chunxia
School of Artificial Intelligence and Big Data, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
1 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Biologie, Biologie, andere, Mathematik, Angewandte Mathematik, Mathematik, Allgemeines, Physik, Physik, andere
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