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Application of Machine Vision Technology in Defect Detection of High Performance Phase Noise Measurement Chips

et

03 sept. 2024

Application of Machine Vision Technology in Defect Detection of High Performance Phase Noise Measurement Chips's Cover Image

Applied Mathematics and Nonlinear Sciences

Édition 9 (2024): Edition 1 (Janvier 2024)

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Publié en ligne: 03 sept. 2024

Reçu: 30 avr. 2024

Accepté: 01 août 2024

DOI: https://doi.org/10.2478/amns-2024-2412

Mots clés
Mean value filtering algorithm, Sobel operator, PCA method, Support vector machine, Chip defect detection

© 2024 Jianxun Deng et al., published by Sciendo

This work is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International License.

Deng, Jianxun

School of Architecture and Materials, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China

Hu, Chunxia

School of Artificial Intelligence and Big Data, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China

Langue:: Anglais

Périodicité:: 1 fois par an
Sujets de la revue:: Sciences de la vie, Sciences de la vie, autres, Mathématiques, Mathématiques appliquées, Mathématiques générales, Physique, Physique, autres

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