Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
Koszyk
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Home
Czasopisma
Measurement Science Review
Tom 21 (2021): Zeszyt 2 (April 2021)
Otwarty dostęp
An Improved Method for Determination of Refractive Index of Dielectric Films from Reflectance Spectrum by Using the Generalized Morse Wavelet
Erhan Tiryaki
Erhan Tiryaki
,
Özlem Kocahan
Özlem Kocahan
oraz
Serhat Özder
Serhat Özder
| 21 maj 2021
Measurement Science Review
Tom 21 (2021): Zeszyt 2 (April 2021)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
21 maj 2021
Zakres stron:
61 - 66
Otrzymano:
23 mar 2021
Przyjęty:
03 maj 2021
DOI:
https://doi.org/10.2478/msr-2021-0009
Słowa kluczowe
Dielectric film
,
refractive index
,
reflectance spectrum
,
continuous wavelet transform
,
generalized Morse wavelet
© 2021 Erhan Tiryaki et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.