Otwarty dostęp

An Improved Method for Determination of Refractive Index of Dielectric Films from Reflectance Spectrum by Using the Generalized Morse Wavelet

,  oraz   
21 maj 2021

Zacytuj
Pobierz okładkę

Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
6 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Inżynieria, Elektrotechnika, Inżynieria sterowania, metrologia i testowanie