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An Improved Method for Determination of Refractive Index of Dielectric Films from Reflectance Spectrum by Using the Generalized Morse Wavelet

Erhan Tiryaki

Erhan Tiryaki

Department of Physics, School of Graduate Studies, Canakkale Onsekiz Mart UniversityCanakkale, Turkey
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Tiryaki, Erhan
, 
Özlem Kocahan

Özlem Kocahan

Department of Physics, Faculty of Arts and Sciences, Namik Kemal UniversityTekirdag, Turkey
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Kocahan, Özlem
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Serhat Özder

Serhat Özder

Department of Physics, Faculty of Arts and Sciences, Canakkale Onsekiz Mart UniversityCanakkale, Turkey
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Özder, Serhat
  
21 mag 2021
An Improved Method for Determination of Refractive Index of Dielectric Films from Reflectance Spectrum by Using the Generalized Morse Wavelet's Cover Image
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Pubblicato online: 21 mag 2021
Pagine: 61 - 66
Ricevuto: 23 mar 2021
Accettato: 03 mag 2021
DOI: https://doi.org/10.2478/msr-2021-0009
Parole chiave
© 2021 Erhan Tiryaki et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
6 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Ingegneria, Elettrotecnica, Ingegneria dell'automazione, metrologia e collaudo
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