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An Improved Method for Determination of Refractive Index of Dielectric Films from Reflectance Spectrum by Using the Generalized Morse Wavelet

Erhan Tiryaki

Erhan Tiryaki

Department of Physics, School of Graduate Studies, Canakkale Onsekiz Mart UniversityCanakkale, Turkey
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Tiryaki, Erhan
, 
Özlem Kocahan

Özlem Kocahan

Department of Physics, Faculty of Arts and Sciences, Namik Kemal UniversityTekirdag, Turkey
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Kocahan, Özlem
 et 
Serhat Özder

Serhat Özder

Department of Physics, Faculty of Arts and Sciences, Canakkale Onsekiz Mart UniversityCanakkale, Turkey
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Özder, Serhat
  
21 mai 2021
An Improved Method for Determination of Refractive Index of Dielectric Films from Reflectance Spectrum by Using the Generalized Morse Wavelet's Cover Image
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Publié en ligne: 21 mai 2021
Pages: 61 - 66
Reçu: 23 mars 2021
Accepté: 03 mai 2021
DOI: https://doi.org/10.2478/msr-2021-0009
Mots clés
© 2021 Erhan Tiryaki et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Langue:
Anglais
Périodicité:
6 fois par an
Sujets de la revue:
Ingénierie, Ingénierie électrique, Ingénierie de contrôle, métrologie et essais
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