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Measurement Science Review
Volumen 21 (2021): Edición 2 (April 2021)
Acceso abierto
An Improved Method for Determination of Refractive Index of Dielectric Films from Reflectance Spectrum by Using the Generalized Morse Wavelet
Erhan Tiryaki
Erhan Tiryaki
,
Özlem Kocahan
Özlem Kocahan
y
Serhat Özder
Serhat Özder
| 21 may 2021
Measurement Science Review
Volumen 21 (2021): Edición 2 (April 2021)
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Publicado en línea:
21 may 2021
Páginas:
61 - 66
Recibido:
23 mar 2021
Aceptado:
03 may 2021
DOI:
https://doi.org/10.2478/msr-2021-0009
Palabras clave
Dielectric film
,
refractive index
,
reflectance spectrum
,
continuous wavelet transform
,
generalized Morse wavelet
© 2021 Erhan Tiryaki et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.