Otwarty dostęp

CC-De-YOLO: A Multiscale Object Detection Method for Wafer Surface Defect

, ,  oraz   
19 wrz 2024

Zacytuj
Pobierz okładkę

Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
4 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Informatyka, Sztuczna inteligencja, Tworzenie oprogramowania