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CC-De-YOLO: A Multiscale Object Detection Method for Wafer Surface Defect

Jianhong Ma

Jianhong Ma

Zhengzhou University, Cyber Science and EngineeringZhangZhou, China
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Ma, Jianhong
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Tao Zhang

Tao Zhang

Zhengzhou University, Cyber Science and EngineeringZhangZhou, China
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Xiaoyan Ma

Xiaoyan Ma

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Ma, Xiaoyan
 y 
Hui Tian

Hui Tian

Zhengzhou University, Cyber Science and EngineeringZhangZhou, China
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Tian, Hui
  
19 sept 2024
CC-De-YOLO: A Multiscale Object Detection Method for Wafer Surface Defect's Cover Image
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Publicado en línea: 19 sept 2024
Páginas: 261 - 285
Recibido: 17 sept 2023
Aceptado: 19 may 2024
DOI: https://doi.org/10.2478/fcds-2024-0014
Palabras clave
© 2024 Jianhong Ma et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Idioma:
Inglés
Calendario de la edición:
4 veces al año
Temas de la revista:
Informática, Inteligencia artificial, Desarrollo de software
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