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Foundations of Computing and Decision Sciences
Band 49 (2024): Heft 3 (September 2024)
Uneingeschränkter Zugang
CC-De-YOLO: A Multiscale Object Detection Method for Wafer Surface Defect
Jianhong Ma
Jianhong Ma
Zhengzhou University, Cyber Science and Engineering
ZhangZhou, China
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Tao Zhang
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Xiaoyan Ma
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Hui Tian
Zhengzhou University, Cyber Science and Engineering
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Tian, Hui
19. Sept. 2024
Foundations of Computing and Decision Sciences
Band 49 (2024): Heft 3 (September 2024)
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COVER HERUNTERLADEN
Online veröffentlicht:
19. Sept. 2024
Seitenbereich:
261 - 285
Eingereicht:
17. Sept. 2023
Akzeptiert:
19. Mai 2024
DOI:
https://doi.org/10.2478/fcds-2024-0014
Schlüsselwörter
Surface defect detection on wafers
,
YOLOv7
,
coordinate attention
,
CAREVC
,
IDetect_Decoupled
© 2024 Jianhong Ma et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
