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CC-De-YOLO: A Multiscale Object Detection Method for Wafer Surface Defect

Jianhong Ma

Jianhong Ma

Zhengzhou University, Cyber Science and EngineeringZhangZhou, China
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Ma, Jianhong
, 
Tao Zhang

Tao Zhang

Zhengzhou University, Cyber Science and EngineeringZhangZhou, China
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Zhang, Tao
, 
Xiaoyan Ma

Xiaoyan Ma

Zhengzhou University, Cyber Science and EngineeringZhangZhou, China
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Ma, Xiaoyan
 et 
Hui Tian

Hui Tian

Zhengzhou University, Cyber Science and EngineeringZhangZhou, China
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Tian, Hui
  
19 sept. 2024
CC-De-YOLO: A Multiscale Object Detection Method for Wafer Surface Defect's Cover Image
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Publié en ligne: 19 sept. 2024
Pages: 261 - 285
Reçu: 17 sept. 2023
Accepté: 19 mai 2024
DOI: https://doi.org/10.2478/fcds-2024-0014
Mots clés
© 2024 Jianhong Ma et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Langue:
Anglais
Périodicité:
4 fois par an
Sujets de la revue:
Informatique, Intelligence artificielle, Développement de logiciels
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