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CC-De-YOLO: A Multiscale Object Detection Method for Wafer Surface Defect

Jianhong Ma

Jianhong Ma

Zhengzhou University, Cyber Science and EngineeringZhangZhou, China
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Ma, Jianhong
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Tao Zhang

Tao Zhang

Zhengzhou University, Cyber Science and EngineeringZhangZhou, China
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Xiaoyan Ma

Xiaoyan Ma

Zhengzhou University, Cyber Science and EngineeringZhangZhou, China
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Ma, Xiaoyan
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Hui Tian

Hui Tian

Zhengzhou University, Cyber Science and EngineeringZhangZhou, China
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Tian, Hui
  
19 set 2024
CC-De-YOLO: A Multiscale Object Detection Method for Wafer Surface Defect's Cover Image
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Pubblicato online: 19 set 2024
Pagine: 261 - 285
Ricevuto: 17 set 2023
Accettato: 19 mag 2024
DOI: https://doi.org/10.2478/fcds-2024-0014
Parole chiave
© 2024 Jianhong Ma et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
4 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Informatica, Intelligenza artificiale, Software Development
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