Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Materials Science-Poland
Tom 36 (2018): Zeszyt 3 (September 2018)
Otwarty dostęp
Physical properties of ZnTe semiconductor thin films prepared by high vacuum resistive system
M. Abbas
M. Abbas
,
N. A. Shah
N. A. Shah
,
K. Jehangir
K. Jehangir
,
M. Fareed
M. Fareed
oraz
A. Zaidi
A. Zaidi
| 02 lis 2018
Materials Science-Poland
Tom 36 (2018): Zeszyt 3 (September 2018)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
02 lis 2018
Zakres stron:
364 - 369
Otrzymano:
28 wrz 2016
Przyjęty:
22 mar 2018
DOI:
https://doi.org/10.1515/msp-2018-0036
Słowa kluczowe
ZnTe thin films
,
heat resistive materials
,
vacuum evaporation
,
electrical properties
,
optical and structural characterization
© 2018 M. Abbas et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.