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Materials Science-Poland
Volume 36 (2018): Numero 3 (September 2018)
Accesso libero
Physical properties of ZnTe semiconductor thin films prepared by high vacuum resistive system
M. Abbas
M. Abbas
,
N. A. Shah
N. A. Shah
,
K. Jehangir
K. Jehangir
,
M. Fareed
M. Fareed
e
A. Zaidi
A. Zaidi
| 02 nov 2018
Materials Science-Poland
Volume 36 (2018): Numero 3 (September 2018)
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Pubblicato online:
02 nov 2018
Pagine:
364 - 369
Ricevuto:
28 set 2016
Accettato:
22 mar 2018
DOI:
https://doi.org/10.1515/msp-2018-0036
Parole chiave
ZnTe thin films
,
heat resistive materials
,
vacuum evaporation
,
electrical properties
,
optical and structural characterization
© 2018 M. Abbas et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.