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Physical properties of ZnTe semiconductor thin films prepared by high vacuum resistive system

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02 nov. 2018

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Materials Science-Poland

Édition 36 (2018): Edition 3 (Septembre 2018)

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Publié en ligne: 02 nov. 2018

Pages: 364 - 369

Reçu: 28 sept. 2016

Accepté: 22 mars 2018

DOI: https://doi.org/10.1515/msp-2018-0036

Mots clés
ZnTe thin films, heat resistive materials, vacuum evaporation, electrical properties, optical and structural characterization

© 2018 M. Abbas et al., published by Sciendo

This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.

Langue:: Anglais

Périodicité:: 4 fois par an
Sujets de la revue:: Sciences des matériaux, Sciences des matériaux, autres, Nanomatériaux, Matériaux fonctionnels et intelligents, Caractérisation et propriétés des matériaux

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