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Physical properties of ZnTe semiconductor thin films prepared by high vacuum resistive system

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02 nov 2018

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Materials Science-Poland

Volumen 36 (2018): Edición 3 (Septiembre 2018)

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Publicado en línea: 02 nov 2018

Páginas: 364 - 369

Recibido: 28 sept 2016

Aceptado: 22 mar 2018

DOI: https://doi.org/10.1515/msp-2018-0036

Palabras clave
ZnTe thin films, heat resistive materials, vacuum evaporation, electrical properties, optical and structural characterization

© 2018 M. Abbas et al., published by Sciendo

This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.

Idioma:: Inglés

Calendario de la edición:: 4 veces al año
Temas de la revista:: Ciencia de los materiales, Ciencia de los materiales, otros, Nanomateriales, Materiales funcionales e inteligentes, Características y propiedades de los materiales

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