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Application of Machine Vision Technology in Defect Detection of High Performance Phase Noise Measurement Chips

Jianxun Deng

Jianxun Deng

School of Architecture and Materials, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China
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Deng, Jianxun
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Chunxia Hu

Chunxia Hu

School of Artificial Intelligence and Big Data, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China
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Hu, Chunxia
  
03 set 2024
Application of Machine Vision Technology in Defect Detection of High Performance Phase Noise Measurement Chips's Cover Image
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Pubblicato online: 03 set 2024
Ricevuto: 30 apr 2024
Accettato: 01 ago 2024
DOI: https://doi.org/10.2478/amns-2024-2412
Parole chiave
© 2024 Jianxun Deng et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
1 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Scienze biologiche, Scienze della vita, altro, Matematica, Matematica applicata, Matematica generale, Fisica, Fisica, altro
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