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Application of Machine Vision Technology in Defect Detection of High Performance Phase Noise Measurement Chips

Jianxun Deng

Jianxun Deng

School of Architecture and Materials, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China
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Deng, Jianxun
 et 
Chunxia Hu

Chunxia Hu

School of Artificial Intelligence and Big Data, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China
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Hu, Chunxia
  
03 sept. 2024
Application of Machine Vision Technology in Defect Detection of High Performance Phase Noise Measurement Chips's Cover Image
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Publié en ligne: 03 sept. 2024
Reçu: 30 avr. 2024
Accepté: 01 août 2024
DOI: https://doi.org/10.2478/amns-2024-2412
Mots clés
© 2024 Jianxun Deng et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Langue:
Anglais
Périodicité:
1 fois par an
Sujets de la revue:
Sciences de la vie, Sciences de la vie, autres, Mathématiques, Mathématiques appliquées, Mathématiques générales, Physique, Physique, autres
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