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Application of Machine Vision Technology in Defect Detection of High Performance Phase Noise Measurement Chips

Jianxun Deng

Jianxun Deng

School of Architecture and Materials, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China
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Deng, Jianxun
 und 
Chunxia Hu

Chunxia Hu

School of Artificial Intelligence and Big Data, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China
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Hu, Chunxia
  
03. Sept. 2024
Application of Machine Vision Technology in Defect Detection of High Performance Phase Noise Measurement Chips's Cover Image
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Online veröffentlicht: 03. Sept. 2024
Eingereicht: 30. Apr. 2024
Akzeptiert: 01. Aug. 2024
DOI: https://doi.org/10.2478/amns-2024-2412
Schlüsselwörter
© 2024 Jianxun Deng et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
1 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Biologie, Biologie, andere, Mathematik, Angewandte Mathematik, Mathematik, Allgemeines, Physik, Physik, andere
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