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Application of Machine Vision Technology in Defect Detection of High Performance Phase Noise Measurement Chips

Jianxun Deng

Jianxun Deng

School of Architecture and Materials, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China
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Deng, Jianxun
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Chunxia Hu

Chunxia Hu

School of Artificial Intelligence and Big Data, Chongqing College of Electronic EngineeringChongqing, China
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Hu, Chunxia
  
03 sept 2024
Application of Machine Vision Technology in Defect Detection of High Performance Phase Noise Measurement Chips's Cover Image
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Publicado en línea: 03 sept 2024
Recibido: 30 abr 2024
Aceptado: 01 ago 2024
DOI: https://doi.org/10.2478/amns-2024-2412
Palabras clave
© 2024 Jianxun Deng et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Idioma:
Inglés
Calendario de la edición:
1 veces al año
Temas de la revista:
Ciencias de la vida, Ciencias de la vida, otros, Matemáticas, Matemáticas aplicadas, Matemáticas generales, Física, Física, otros
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