Uneingeschränkter Zugang

Research On Chips’ Defect Extraction Based On Image-Matching

Daode Zhang

Daode Zhang

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
Suche nach diesem Autor auf
Sciendo|Google Scholar
Zhang, Daode
, 
Yangliu Xue

Yangliu Xue

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
Suche nach diesem Autor auf
Sciendo|Google Scholar
Xue, Yangliu
, 
Xuhui Ye

Xuhui Ye

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
Suche nach diesem Autor auf
Sciendo|Google Scholar
Ye, Xuhui
 und 
Yanli Li

Yanli Li

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
Suche nach diesem Autor auf
Sciendo|Google Scholar
Li, Yanli
  
10. März 2014
Research On Chips’ Defect Extraction Based On Image-Matching's Cover Image
Über diesen Artikel
Vorheriger Artikel
Nächster Artikel
Zitieren
COVER HERUNTERLADEN
Online veröffentlicht: 10. März 2014
Seitenbereich: 321 - 336
Eingereicht: 20. Juli 2013
Akzeptiert: 12. Feb. 2014
DOI: https://doi.org/10.21307/ijssis-2017-658
Schlüsselwörter
© 2014 Daode Zhang et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
1 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Technik, Einführungen und Gesamtdarstellungen, Technik, andere
Zeitschrift RSS Feed