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Research On Chips’ Defect Extraction Based On Image-Matching

Daode Zhang

Daode Zhang

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
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Zhang, Daode
, 
Yangliu Xue

Yangliu Xue

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
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Xue, Yangliu
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Xuhui Ye

Xuhui Ye

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
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Ye, Xuhui
 y 
Yanli Li

Yanli Li

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
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Li, Yanli
  
10 mar 2014
Research On Chips’ Defect Extraction Based On Image-Matching's Cover Image
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Publicado en línea: 10 mar 2014
Páginas: 321 - 336
Recibido: 20 jul 2013
Aceptado: 12 feb 2014
DOI: https://doi.org/10.21307/ijssis-2017-658
Palabras clave
© 2014 Daode Zhang et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.
Idioma:
Inglés
Calendario de la edición:
1 veces al año
Temas de la revista:
Ingeniería, Introducciones y reseñas, Ingeniería, otros
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