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Research On Chips’ Defect Extraction Based On Image-Matching

Daode Zhang

Daode Zhang

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
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Zhang, Daode
, 
Yangliu Xue

Yangliu Xue

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
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Xue, Yangliu
, 
Xuhui Ye

Xuhui Ye

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
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Ye, Xuhui
 und 
Yanli Li

Yanli Li

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
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Li, Yanli
  
10. März 2014
Research On Chips’ Defect Extraction Based On Image-Matching's Cover Image
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Online veröffentlicht: 10. März 2014
Seitenbereich: 321 - 336
Eingereicht: 20. Juli 2013
Akzeptiert: 12. Feb. 2014
DOI: https://doi.org/10.21307/ijssis-2017-658
Schlüsselwörter
© 2014 Daode Zhang et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.
Zhang, Daode
School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
Xue, Yangliu
School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
Ye, Xuhui
School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
Li, Yanli
School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
1 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Technik, Einführungen und Gesamtdarstellungen, Technik, andere
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