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Research On Chips’ Defect Extraction Based On Image-Matching

Daode Zhang

Daode Zhang

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
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Zhang, Daode
, 
Yangliu Xue

Yangliu Xue

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
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Xue, Yangliu
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Xuhui Ye

Xuhui Ye

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
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Ye, Xuhui
 e 
Yanli Li

Yanli Li

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
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Li, Yanli
  
10 mar 2014
Research On Chips’ Defect Extraction Based On Image-Matching's Cover Image
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Pubblicato online: 10 mar 2014
Pagine: 321 - 336
Ricevuto: 20 lug 2013
Accettato: 12 feb 2014
DOI: https://doi.org/10.21307/ijssis-2017-658
Parole chiave
© 2014 Daode Zhang et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.
Lingua:
Inglese
Frequenza di pubblicazione:
1 volte all'anno
Argomenti della rivista:
Ingegneria, Introduzioni e rassegna, Ingegneria, altro
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