Accès libre

Research On Chips’ Defect Extraction Based On Image-Matching

Daode Zhang

Daode Zhang

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
Recherchez cet auteur sur
Sciendo|Google Scholar
Zhang, Daode
, 
Yangliu Xue

Yangliu Xue

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
Recherchez cet auteur sur
Sciendo|Google Scholar
Xue, Yangliu
, 
Xuhui Ye

Xuhui Ye

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
Recherchez cet auteur sur
Sciendo|Google Scholar
Ye, Xuhui
 et 
Yanli Li

Yanli Li

School of Mechanical Engineering, Hubei University of TechnologyWuhan, China
Recherchez cet auteur sur
Sciendo|Google Scholar
Li, Yanli
  
10 mars 2014
Research On Chips’ Defect Extraction Based On Image-Matching's Cover Image
À propos de cet article
Article précédent
Article suivant
Citez
Télécharger la couverture
Publié en ligne: 10 mars 2014
Pages: 321 - 336
Reçu: 20 juil. 2013
Accepté: 12 févr. 2014
DOI: https://doi.org/10.21307/ijssis-2017-658
Mots clés
© 2014 Daode Zhang et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.
Langue:
Anglais
Périodicité:
1 fois par an
Sujets de la revue:
Ingénierie, Présentations et aperçus, Ingénierie, autres
RSS Feed de la revue