Otwarty dostęp

Revisiting Strategies for Fitting Logistic Regression for Positive and Unlabeled Data

International Journal of Applied Mathematics and Computer Science's Cover Image
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Towards Self-Healing Systems through Diagnostics, Fault-Tolerance and Design (Special section, pp. 171-269), Marcin Witczak and Ralf Stetter (Eds.)

Zacytuj

eISSN:
2083-8492
Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
4 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Mathematics, Applied Mathematics