Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Tom 18 (2008): Zeszyt 1 (March 2008)
Otwarty dostęp
Local Correlation and Entropy Maps as Tools for Detecting Defects in Industrial Images
Ewa Skubalska-Rafajłowicz
Ewa Skubalska-Rafajłowicz
| 21 mar 2008
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Tom 18 (2008): Zeszyt 1 (March 2008)
Applied Image Processing (special issue), Anton Kummert and Ewaryst Rafajłowicz (Eds.)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
21 mar 2008
Zakres stron:
41 - 47
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10006-008-0004-0
Słowa kluczowe
Defects detection
,
image processing
,
local correlation
,
entropy map
This content is open access.
Ewa Skubalska-Rafajłowicz
Institute of Computer Engineering, Control and Robotics, Wrocław University of Technology, ul. Wybrzżze Wyspiańskiego 27, 50-370 Wrocław, Poland