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International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Band 18 (2008): Heft 1 (March 2008)
Uneingeschränkter Zugang
Local Correlation and Entropy Maps as Tools for Detecting Defects in Industrial Images
Ewa Skubalska-Rafajłowicz
Ewa Skubalska-Rafajłowicz
| 21. März 2008
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Band 18 (2008): Heft 1 (March 2008)
Applied Image Processing (special issue), Anton Kummert and Ewaryst Rafajłowicz (Eds.)
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Online veröffentlicht:
21. März 2008
Seitenbereich:
41 - 47
DOI:
https://doi.org/10.2478/v10006-008-0004-0
Schlüsselwörter
Defects detection
,
image processing
,
local correlation
,
entropy map
This content is open access.
Ewa Skubalska-Rafajłowicz
Institute of Computer Engineering, Control and Robotics, Wrocław University of Technology, ul. Wybrzżze Wyspiańskiego 27, 50-370 Wrocław, Poland