Otwarty dostęp

Local Correlation and Entropy Maps as Tools for Detecting Defects in Industrial Images

International Journal of Applied Mathematics and Computer Science's Cover Image
International Journal of Applied Mathematics and Computer Science
Applied Image Processing (special issue), Anton Kummert and Ewaryst Rafajłowicz (Eds.)

Zacytuj

ISSN:
1641-876X
Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
4 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Mathematics, Applied Mathematics