Studies on In_x(As₂Se₃)_1-x thin films using variable angle spectroscopic ellipsometry (VASE)

Data publikacji: 30 sie 2016

Zakres stron: 501 - 507

Otrzymano: 09 paź 2014

Przyjęty: 29 kwi 2015

DOI: https://doi.org/10.1515/msp-2015-0075

Słowa kluczowe

chalcogenides, ellipsometry, optical absorption, energy gap, nonlinear optics

© 2016

This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.