Studies on In_x(As₂Se₃)_1-x thin films using variable angle spectroscopic ellipsometry (VASE)

Publicado en línea: 30 ago 2016

Páginas: 501 - 507

Recibido: 09 oct 2014

Aceptado: 29 abr 2015

DOI: https://doi.org/10.1515/msp-2015-0075

Palabras clave

chalcogenides, ellipsometry, optical absorption, energy gap, nonlinear optics

© 2016

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