Studies on Inx(As2Se3)1-x thin films using variable angle spectroscopic ellipsometry (VASE)
30 ago 2016
INFORMAZIONI SU QUESTO ARTICOLO
Pubblicato online: 30 ago 2016
Pagine: 501 - 507
Ricevuto: 09 ott 2014
Accettato: 29 apr 2015
DOI: https://doi.org/10.1515/msp-2015-0075
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Amin, G. A. M.