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Materials Science-Poland
Volume 33 (2015): Numero 3 (September 2015)
Accesso libero
Studies on In
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)
1-x
thin films using variable angle spectroscopic ellipsometry (VASE)
G. A. M. Amin
G. A. M. Amin
| 30 ago 2016
Materials Science-Poland
Volume 33 (2015): Numero 3 (September 2015)
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Pubblicato online:
30 ago 2016
Pagine:
501 - 507
Ricevuto:
09 ott 2014
Accettato:
29 apr 2015
DOI:
https://doi.org/10.1515/msp-2015-0075
Parole chiave
chalcogenides
,
ellipsometry
,
optical absorption
,
energy gap
,
nonlinear optics
© 2016
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.