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Materials Science-Poland
Édition 33 (2015): Edition 3 (September 2015)
Accès libre
Multifractal characteristics of titanium nitride thin films
Ştefan Ţălu
Ştefan Ţălu
,
Sebastian Stach
Sebastian Stach
,
Shahoo Valedbagi
Shahoo Valedbagi
,
Reza Bavadi
Reza Bavadi
,
S. Mohammad Elahi
S. Mohammad Elahi
et
Mihai Ţălu
Mihai Ţălu
| 30 août 2016
Materials Science-Poland
Édition 33 (2015): Edition 3 (September 2015)
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Publié en ligne:
30 août 2016
Pages:
541 - 548
DOI:
https://doi.org/10.1515/msp-2015-0086
Mots clés
atomic force microscopy
,
DC magnetron sputtering
,
multifractal analysis
,
surface roughness
,
titanium nitride (TiN) thin film
© 2016
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.