Skip to content
Publicar y Distribuir
Soluciones de Publicación
Soluciones de Distribución
Servicios bibliotecarios
Temas
Arquitectura y diseño
Artes
Ciencias Sociales
Ciencias de la Información y Bibliotecas, Estudios del Libro
Ciencias de la vida
Ciencias de los materiales
Deporte y tiempo libre
Estudios clásicos y del Cercano Oriente antiguo
Estudios culturales
Estudios judíos
Farmacia
Filosofía
Física
Geociencias
Historia
Informática
Ingeniería
Interés general
Ley
Lingüística y semiótica
Literatura
Matemáticas
Medicina
Música
Negocios y Economía
Química
Química industrial
Teología y religión
Publicaciones
Revistas
Libros
Actas
Editoriales
Journal Matcher
Blog
Contacto
Buscar
Español
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Carrito
Home
Revistas
Materials Science-Poland
Volumen 33 (2015): Edición 3 (Septiembre 2015)
Acceso abierto
Studies on In
x
(As
2
Se
3
)
1-x
thin films using variable angle spectroscopic ellipsometry (VASE)
G. A. M. Amin
G. A. M. Amin
Buscar este autor en
Sciendo
|
Google Scholar
Amin, G. A. M.
30 ago 2016
Materials Science-Poland
Volumen 33 (2015): Edición 3 (Septiembre 2015)
Acerca de este artículo
Artículo anterior
Artículo siguiente
Resumen
Referencias
Autores
Artículos en este número
Vista previa
PDF
Cite
Compartir
Descargar portada
Publicado en línea:
30 ago 2016
Páginas:
501 - 507
Recibido:
09 oct 2014
Aceptado:
29 abr 2015
DOI:
https://doi.org/10.1515/msp-2015-0075
Palabras clave
chalcogenides
,
ellipsometry
,
optical absorption
,
energy gap
,
nonlinear optics
© 2016
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
