Measurement Science Review's Cover Image
Otwarty dostęp

Measurement Science Review

Tom 15 (2015): Zeszyt 1 (Luty 2015)

Pobierz okładkę
8 Artykułów
Otwarty dostęp | 11 mar 2015
Correction of Scanning Steps to Improve Accuracy in Interferometric Profilometer
, ,  oraz   
Otwarty dostęp | 11 mar 2015
A Kalman Filter-Based Algorithm for Measuring the Parameters of Moving Objects
, ,  oraz   
Otwarty dostęp | 11 mar 2015
Hidden Markov Model-based Pedestrian Navigation System using MEMS Inertial Sensors
, ,  oraz   
Otwarty dostęp | 11 mar 2015
Analytical Modeling for the Grating Eddy Current Displacement Sensors
, , ,  oraz   

Wyszukiwanie

Wszystkie tomy i zeszyty w tym czasopiśmie

Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
6 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Inżynieria, Elektrotechnika, Inżynieria sterowania, metrologia i testowanie