Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Materials Science-Poland
Tom 38 (2020): Zeszyt 1 (March 2020)
Otwarty dostęp
Micro-structural and bonding structure analysis of TiAlN thin films deposited with varying N
2
flow rate via ion beam sputtering technique
Soham Das
Soham Das
,
Mukul Gupta
Mukul Gupta
,
Ashis Sharma
Ashis Sharma
oraz
Bibhu P. Swain
Bibhu P. Swain
| 08 maj 2020
Materials Science-Poland
Tom 38 (2020): Zeszyt 1 (March 2020)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
08 maj 2020
Zakres stron:
122 - 131
Otrzymano:
13 paź 2018
Przyjęty:
23 kwi 2019
DOI:
https://doi.org/10.2478/msp-2020-0006
Słowa kluczowe
TiAlN
,
GIXRD
,
FE-SEM
,
XANES
© 2020 Soham Das et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.