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Materials Science-Poland
Volume 38 (2020): Numero 1 (March 2020)
Accesso libero
Micro-structural and bonding structure analysis of TiAlN thin films deposited with varying N
2
flow rate via ion beam sputtering technique
Soham Das
Soham Das
,
Mukul Gupta
Mukul Gupta
,
Ashis Sharma
Ashis Sharma
e
Bibhu P. Swain
Bibhu P. Swain
| 08 mag 2020
Materials Science-Poland
Volume 38 (2020): Numero 1 (March 2020)
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Pubblicato online:
08 mag 2020
Pagine:
122 - 131
Ricevuto:
13 ott 2018
Accettato:
23 apr 2019
DOI:
https://doi.org/10.2478/msp-2020-0006
Parole chiave
TiAlN
,
GIXRD
,
FE-SEM
,
XANES
© 2020 Soham Das et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.