Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Materials Science-Poland
Tom 36 (2018): Zeszyt 4 (December 2018)
Otwarty dostęp
Analysis of surface properties of Ti-Cu-Ox gradient thin films using AFM and XPS investigations
Tomasz Kotwica
Tomasz Kotwica
,
Jaroslaw Domaradzki
Jaroslaw Domaradzki
,
Damian Wojcieszak
Damian Wojcieszak
,
Andrzej Sikora
Andrzej Sikora
,
Malgorzata Kot
Malgorzata Kot
oraz
Dieter Schmeisser
Dieter Schmeisser
| 01 lut 2019
Materials Science-Poland
Tom 36 (2018): Zeszyt 4 (December 2018)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
01 lut 2019
Zakres stron:
761 - 768
Otrzymano:
09 lis 2018
Przyjęty:
30 lis 2018
DOI:
https://doi.org/10.2478/msp-2018-0100
Słowa kluczowe
surface
,
gradient distribution
,
thin film oxide
© 2018 Tomasz Kotwica et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.