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Materials Science-Poland
Édition 36 (2018): Edition 4 (Décembre 2018)
Accès libre
Analysis of surface properties of Ti-Cu-Ox gradient thin films using AFM and XPS investigations
Tomasz Kotwica
Tomasz Kotwica
Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, Wroclaw University of Science and Technology
Wroclaw, Poland
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Kotwica, Tomasz
,
Jaroslaw Domaradzki
Jaroslaw Domaradzki
Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, Wroclaw University of Science and Technology
Wroclaw, Poland
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Domaradzki, Jaroslaw
,
Damian Wojcieszak
Damian Wojcieszak
Faculty of Microsystem Electronics and Photonics, Wroclaw University of Science and Technology
Wroclaw, Poland
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Wojcieszak, Damian
,
Andrzej Sikora
Andrzej Sikora
Department of Material Science and Diagnostics, Electrotechnical Institute
Wroclaw, Poland
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Sikora, Andrzej
,
Malgorzata Kot
Malgorzata Kot
Applied Physics-Sensor Technology, Brandenburg, University of Technology Cottbus-Senftenberg
Cottbus, Germany
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Kot, Malgorzata
et
Dieter Schmeisser
Dieter Schmeisser
Applied Physics-Sensor Technology, Brandenburg, University of Technology Cottbus-Senftenberg
Cottbus, Germany
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Schmeisser, Dieter
01 févr. 2019
Materials Science-Poland
Édition 36 (2018): Edition 4 (Décembre 2018)
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Publié en ligne:
01 févr. 2019
Pages:
761 - 768
Reçu:
09 nov. 2018
Accepté:
30 nov. 2018
DOI:
https://doi.org/10.2478/msp-2018-0100
Mots clés
surface
,
gradient distribution
,
thin film oxide
© 2018 Tomasz Kotwica et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 License.
