Otwarty dostęp

The Fast Method for Correction of Distortion on Infrared Marker-Based Tracking System

Haibin Wang

Haibin Wang

  • Institute Microelectronics of Chinese Academy of SciencesChina
  • Guangzhou Institutes of Advanced Technology, Chinese Academy of SciencesChina
  • Chinese Academy of Sciences/The Chinese University of Hong Kong Shenzhen Institute of Advanced Integration Technology, Shenzhen Institutes of Advanced Technology, ShenzhenChina
Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Wang, Haibin
, 
Qing He

Qing He

  • Guangzhou Institutes of Advanced Technology, Chinese Academy of SciencesChina
  • Chinese Academy of Sciences/The Chinese University of Hong Kong Shenzhen Institute of Advanced Integration Technology, Shenzhen Institutes of Advanced Technology, ShenzhenChina
Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
He, Qing
, 
Guan Guan

Guan Guan

  • Guangzhou Institutes of Advanced Technology, Chinese Academy of SciencesChina
  • Chinese Academy of Sciences/The Chinese University of Hong Kong Shenzhen Institute of Advanced Integration Technology, Shenzhen Institutes of Advanced Technology, ShenzhenChina
Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Guan, Guan
, 
Bin Leng

Bin Leng

  • Guangzhou Institutes of Advanced Technology, Chinese Academy of SciencesChina
  • Chinese Academy of Sciences/The Chinese University of Hong Kong Shenzhen Institute of Advanced Integration Technology, Shenzhen Institutes of Advanced Technology, ShenzhenChina
Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Leng, Bin
 oraz 
Dewen Zeng

Dewen Zeng

  • Guangzhou Institutes of Advanced Technology, Chinese Academy of SciencesChina
  • Chinese Academy of Sciences/The Chinese University of Hong Kong Shenzhen Institute of Advanced Integration Technology, Shenzhen Institutes of Advanced Technology, ShenzhenChina
Wyszukaj tego autora
Sciendo|Google Scholar
Zeng, Dewen
  
20 lut 2013
The Fast Method for Correction of Distortion on Infrared Marker-Based Tracking System's Cover Image
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Zacytuj
Pobierz okładkę
Data publikacji: 20 lut 2013
Zakres stron: 259 - 277
Otrzymano: 19 wrz 2012
Przyjęty: 26 gru 2012
DOI: https://doi.org/10.21307/ijssis-2017-539
Słowa kluczowe
© 2013 Haibin Wang et al., published by Sciendo
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 4.0 International License.
Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
1 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Inżynieria, Wstępy i przeglądy, Inżynieria, inne
Kanał RSS czasopisma