Otwarty dostęp

I-cored Coil Probe Located Above a Conductive Plate with a Surface Hole


Zacytuj

eISSN:
1335-8871
Język:
Angielski
Częstotliwość wydawania:
6 razy w roku
Dziedziny czasopisma:
Engineering, Electrical Engineering, Control Engineering, Metrology and Testing