Logowanie
Zarejestruj się
Zresetuj hasło
Publikuj i Dystrybuuj
Rozwiązania Wydawnicze
Rozwiązania Dystrybucyjne
Dziedziny
Architektura i projektowanie
Bibliotekoznawstwo i bibliologia
Biznes i ekonomia
Chemia
Chemia przemysłowa
Filozofia
Fizyka
Historia
Informatyka
Inżynieria
Inżynieria materiałowa
Językoznawstwo i semiotyka
Kulturoznawstwo
Literatura
Matematyka
Medycyna
Muzyka
Nauki farmaceutyczne
Nauki klasyczne i starożytne studia bliskowschodnie
Nauki o Ziemi
Nauki o organizmach żywych
Nauki społeczne
Prawo
Sport i rekreacja
Studia judaistyczne
Sztuka
Teologia i religia
Zagadnienia ogólne
Publikacje
Czasopisma
Książki
Materiały konferencyjne
Wydawcy
Blog
Kontakt
Wyszukiwanie
EUR
USD
GBP
Polski
English
Deutsch
Polski
Español
Français
Italiano
Koszyk
Home
Czasopisma
Measurement Science Review
Tom 18 (2018): Zeszyt 1 (February 2018)
Otwarty dostęp
I-cored Coil Probe Located Above a Conductive Plate with a Surface Hole
Grzegorz Tytko
Grzegorz Tytko
oraz
Leszek Dziczkowski
Leszek Dziczkowski
| 07 mar 2018
Measurement Science Review
Tom 18 (2018): Zeszyt 1 (February 2018)
O artykule
Poprzedni artykuł
Następny artykuł
Abstrakt
Referencje
Autorzy
Artykuły w tym zeszycie
Podgląd
PDF
Zacytuj
Udostępnij
Data publikacji:
07 mar 2018
Zakres stron:
7 - 12
Otrzymano:
25 paź 2017
Przyjęty:
12 lut 2018
DOI:
https://doi.org/10.1515/msr-2018-0002
Słowa kluczowe
Nondestructive testing
,
eddy current
,
coil impedance
,
calculation
,
modeling
,
truncated region eigenfunction expansion
© 2018 Grzegorz Tytko et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Grzegorz Tytko
Institute of Electronics, Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science, The Silesian University of Technology
Gliwice, Poland
Leszek Dziczkowski
Institute of Electronics, Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science, The Silesian University of Technology
Gliwice, Poland