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I-cored Coil Probe Located Above a Conductive Plate with a Surface Hole

Grzegorz Tytko

Grzegorz Tytko

Institute of Electronics, Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science, The Silesian University of TechnologyGliwice, Poland
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Tytko, Grzegorz
 und 
Leszek Dziczkowski

Leszek Dziczkowski

Institute of Electronics, Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science, The Silesian University of TechnologyGliwice, Poland
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Dziczkowski, Leszek
  
07. März 2018
I-cored Coil Probe Located Above a Conductive Plate with a Surface Hole's Cover Image
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Online veröffentlicht: 07. März 2018
Seitenbereich: 7 - 12
Eingereicht: 25. Okt. 2017
Akzeptiert: 12. Feb. 2018
DOI: https://doi.org/10.1515/msr-2018-0002
Schlüsselwörter
© 2018 Grzegorz Tytko et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Sprache:
Englisch
Zeitrahmen der Veröffentlichung:
6 Hefte pro Jahr
Fachgebiete der Zeitschrift:
Technik, Elektrotechnik, Mess-, Steuer- und Regelungstechnik
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