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I-cored Coil Probe Located Above a Conductive Plate with a Surface Hole

Grzegorz Tytko

Grzegorz Tytko

Institute of Electronics, Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science, The Silesian University of TechnologyGliwice, Poland
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Tytko, Grzegorz
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Leszek Dziczkowski

Leszek Dziczkowski

Institute of Electronics, Faculty of Automatic Control, Electronics and Computer Science, The Silesian University of TechnologyGliwice, Poland
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Dziczkowski, Leszek
  
07 mar 2018
I-cored Coil Probe Located Above a Conductive Plate with a Surface Hole's Cover Image
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Publicado en línea: 07 mar 2018
Páginas: 7 - 12
Recibido: 25 oct 2017
Aceptado: 12 feb 2018
DOI: https://doi.org/10.1515/msr-2018-0002
Palabras clave
© 2018 Grzegorz Tytko et al., published by De Gruyter Open
This work is licensed under the Creative Commons Attribution-NonCommercial-NoDerivatives 3.0 License.
Idioma:
Inglés
Calendario de la edición:
6 veces al año
Temas de la revista:
Ingeniería, Ingeniería eléctrica, Ingeniería de Control, metrología y ensayos
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